工場モデル : | 8V182512IDGGREP |
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RoHS ステータス : | 鉛フリー/ RoHS準拠 |
メーカー/ブランド : | Luminary Micro / Texas Instruments |
在庫状況 : | 2101 pcs Stock |
説明 : | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
配達場所 : | 香港 |
仕様書 : | |
輸送モード : | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
モデル | 8V182512IDGGREP |
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メーカー | |
説明 | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
フリーステータス/ RoHS状態 | 鉛フリー/ RoHS準拠 |
在庫あり | 2101 pcs |
仕様書 | |
供給電圧 | 2.7 V ~ 3.6 V |
サプライヤデバイスパッケージ | 64-TSSOP |
シリーズ | - |
パッケージング | Tape & Reel (TR) |
パッケージ/ケース | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
他の名前 | 296-22075-2 V62/04730-01XE |
運転温度 | -40°C ~ 85°C |
ビット数 | 18 |
装着タイプ | Surface Mount |
水分感受性レベル(MSL) | 1 (Unlimited) |
メーカーの標準リードタイム | 42 Weeks |
論理タイプ | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
鉛フリーステータス/ RoHSステータス | Lead free / RoHS Compliant |
詳細な説明 | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-TSSOP |
ベース部品番号 | 74LVTH182512 |
IC REGISTERED BUFFER 160-TFBGA
IC TXRX NON-INVERT 3.6V 48SSOP
IC BUFFER 1.8V 25BIT SOT536-1
在庫ありIC RECEIVER/DRVR ECL DIFF 8SOIC
在庫ありIC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
IC DRIVER QUAD DIFF PECL 16-SOIC
在庫ありIC TXRX 8BIT TTL/BTL 52-QFP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
IC BUFFER 1.8V 25BIT SOT536
在庫あり