部品型番:SN74AHC1G125DBVR
- 公開: 03/3/2022
- 期間: 10 2番
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工場モデル : | SN74ABT18640DLRG4 | RoHS ステータス : | 鉛フリー/ RoHS準拠 |
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メーカー/ブランド : | Luminary Micro / Texas Instruments | 在庫状況 : | 4981 pcs Stock |
説明 : | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | 配達場所 : | 香港 |
仕様書 : | 輸送モード : | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
モデル | SN74ABT18640DLRG4 |
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メーカー | |
説明 | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP |
フリーステータス/ RoHS状態 | 鉛フリー/ RoHS準拠 |
在庫あり | 4981 pcs |
仕様書 | |
供給電圧 | 4.5 V ~ 5.5 V |
サプライヤデバイスパッケージ | 56-SSOP |
シリーズ | 74ABT |
パッケージング | Tape & Reel (TR) |
パッケージ/ケース | 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
運転温度 | -40°C ~ 85°C |
ビット数 | 18 |
装着タイプ | Surface Mount |
水分感受性レベル(MSL) | 1 (Unlimited) |
論理タイプ | Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers |
鉛フリーステータス/ RoHSステータス | Lead free / RoHS Compliant |
詳細な説明 | Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers IC 56-SSOP |
ベース部品番号 | 74ABT18640 |
IC BUFFER INVERT 5.5V 20SSOP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP
IC BUFFER INVERT 5.5V 20SOIC
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
IC BUFFER INVERT 5.5V 20SOIC
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP