部品型番:SN74AHC1G125DBVR
- 公開: 03/3/2022
- 期間: 10 2番
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工場モデル : | SN74ABTH182646APM |
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RoHS ステータス : | 鉛フリー/ RoHS準拠 |
メーカー/ブランド : | Luminary Micro / Texas Instruments |
在庫状況 : | 1656 pcs Stock |
説明 : | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP |
配達場所 : | 香港 |
仕様書 : | |
輸送モード : | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
モデル | SN74ABTH182646APM |
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メーカー | |
説明 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP |
フリーステータス/ RoHS状態 | 鉛フリー/ RoHS準拠 |
在庫あり | 1656 pcs |
仕様書 | |
供給電圧 | 4.5 V ~ 5.5 V |
サプライヤデバイスパッケージ | 64-LQFP (10x10) |
シリーズ | 74ABTH |
パッケージング | Tray |
パッケージ/ケース | 64-LQFP |
他の名前 | 296-4133 74ABTH182646APMG4 74ABTH182646APMG4-ND |
運転温度 | -40°C ~ 85°C |
ビット数 | 18 |
装着タイプ | Surface Mount |
水分感受性レベル(MSL) | 3 (168 Hours) |
メーカーの標準リードタイム | 6 Weeks |
論理タイプ | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
鉛フリーステータス/ RoHSステータス | Lead free / RoHS Compliant |
詳細な説明 | Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10) |
ベース部品番号 | 74ABTH182646 |
IC FF D-TYPE SNGL 9BIT 56SSOP
IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
IC FF D-TYPE DUAL 9BIT 56SSOP
IC FF D-TYPE SNGL 9BIT 56SSOP
IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP